單翼跌落試驗(yàn)機(jī)墜落時之受損情況,及評估電子組件在搬動時受落下之耐沖擊強(qiáng)度,包裝容器之凌角、面均可測試；

單翼式跌落試驗(yàn)機(jī)墜落時之受損情況,及評估電子組件在搬動時受落下之耐沖擊強(qiáng)度,包裝容器之凌角、面均可測試；

墜落時之受損情況,及評估電子組件在搬動時受落下之耐沖擊強(qiáng)度,包裝容器之凌角、面均可測試；

墜落時之受損情況,及評估電子組件在搬動時受落下之耐沖擊強(qiáng)度,包裝容器之凌角、面均可測試；

符合國標(biāo)： GB10592－89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB10586－89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件; GB2423.1－2001試驗(yàn)A 高溫試驗(yàn)方法; GB2423.2－2001試驗(yàn) 適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能指標(biāo)，產(chǎn)品種類齊全,質(zhì)量可靠。